數(shù)模/模數(shù)轉(zhuǎn)換器和大容量存儲器件γ射線輻射試驗(yàn)研究

構(gòu)建了一個測試平臺,在計算機(jī)和輔助測試模塊的配合下,對信號處理模塊經(jīng)常用到的數(shù)模/模數(shù)轉(zhuǎn)換器AD10465和AD9857以及大容量FLASH存儲器、反熔絲PROM存儲器進(jìn)行了γ射線輻射試驗(yàn),并以功能的正常性為測試標(biāo)準(zhǔn)對這些器件的抗輻射效應(yīng)性能進(jìn)行了評估.結(jié)果發(fā)現(xiàn),AD10465和AD9857在總劑量為1.59kGy時仍然功能正常,FLASH存儲器和反熔絲存儲器分別在總劑量為0.13kGy和0.99kGy時出現(xiàn)錯誤.

作 者： 邢克飛 王躍科 潘華鋒 XING Kefei WANG Yueke PAN Huafeng   作者單位： 邢克飛,王躍科,XING Kefei,WANG Yueke(國防科技大學(xué)機(jī)電工程與自動化學(xué)院323室,長沙,410073)

潘華鋒,PAN Huafeng(上海航天電子有限公司,上海,201800) 

刊 名： 輻射研究與輻射工藝學(xué)報  ISTIC PKU 英文刊名： JOURNAL OF RADIATION RESEARCH AND RADIATION PROCESSING  年，卷(期)： 2006 24(4)  分類號： V4  關(guān)鍵詞： AD/DA轉(zhuǎn)換器   存儲器   60Coγ射線   總劑量   輻照效應(yīng)  

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