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飛機結構缺陷漏檢概率評估與控制技術
提出了一種飛機結構缺陷漏檢概率評估與控制技術,利用該技術可以有效地提高單機乃至機群中缺陷(裂紋)檢出概率(POD),并可以對缺陷(裂紋)的漏檢概率進行準確地評估和控制,使飛機因裂紋漏檢而造成事故的可能性降至最低程度,從而確保飛機的安全飛行.
作 者: 劉登第 傅惠民 LIU Deng-di FU Hui-min 作者單位: 北京航空航天大學,固體所,北京,100083 刊 名: 航空學報 ISTIC EI PKU 英文刊名: ACTA AERONAUTICA ET ASTRONAUTICA SINICA 年,卷(期): 2000 21(3) 分類號: V216.3 V215.7 關鍵詞: 無損檢測 飛機結構 可靠性 控制【飛機結構缺陷漏檢概率評估與控制技術】相關文章:
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