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功能性聚酰亞胺薄膜的研制
通過原位聚合法,將納米粒子Al2O3引入聚酰亞胺基體中,制備了具有不同Al2O3含量的Al2O3/PI雜化薄膜.研究結(jié)果表明:當Al2O3的質(zhì)量分數(shù)小于10%時,雜化薄膜的拉伸強度和電擊穿強度與純薄膜相當;當Al2O3的質(zhì)量分數(shù)為10%時,雜化薄膜的電老化壽命是純薄膜的3.4倍,失重5%的溫度比純薄膜提高了42℃;隨著Al2O3質(zhì)量分數(shù)的增加,雜化薄膜的線膨脹系數(shù)呈下降趨勢.
作 者： 胡愛軍 吳俊濤 王德生 范琳 楊士勇 Hu Aijun Wu Juntao Wang Desheng Fan Lin Yang Shiyong 作者單位： 中國科學院化學研究所高技術(shù)材料實驗室,北京,100080 刊 名： 宇航材料工藝 ISTIC PKU 英文刊名： AEROSPACE MATERIALS & TECHNOLOGY 年，卷(期)： 2006 36(2) 分類號： V25 關(guān)鍵詞： 原位聚合 耐電老化性 聚酰亞胺薄膜【功能性聚酰亞胺薄膜的研制】相關(guān)文章：
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