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磁性薄膜電磁參數(shù)測(cè)試技術(shù)
扼要介紹了近15年國(guó)內(nèi)外在磁性薄膜材料電磁參數(shù)測(cè)試方法的概況及技術(shù)特點(diǎn),這些方法主要包括帶狀線(xiàn)法、微帶線(xiàn)法、波導(dǎo)法及共面波導(dǎo)法、終端阻抗及短路法和諧振腔法.
作 者: 陳雪飛 郭高鳳 周揚(yáng) 李恩 作者單位: 電子科技大學(xué)電子工程學(xué)院,成都,611731 刊 名: 宇航材料工藝 ISTIC PKU 英文刊名: AEROSPACE MATERIALS & TECHNOLOGY 年,卷(期): 2010 40(2) 分類(lèi)號(hào): V2 關(guān)鍵詞: 磁性薄膜 電磁參數(shù) 網(wǎng)絡(luò)參數(shù)法 諧振腔法 Magnetic thin film Electromagnetic parameters Network parameter method Resonant cavity method【磁性薄膜電磁參數(shù)測(cè)試技術(shù)】相關(guān)文章:
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