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二元高-k材料研究進(jìn)展及制備
隨著大規(guī)模集成電路的發(fā)展,需要一種高介質(zhì)材料來代替?zhèn)鹘y(tǒng)的SiO2,介紹了有可能替代SiO2的幾種二元材料的研究現(xiàn)狀,主要包括Si3N4、Ta2O5、TiO2、ZrO2、Y2O3、Gd2O3和CeO2幾種材料的結(jié)構(gòu)和電學(xué)性能,以及制備薄膜的幾種方法:蒸發(fā)法、化學(xué)氣相沉積和離子束沉積.
作 者: 周劍平 柴春林 楊少延 劉志凱 張志成 陳諾夫 林蘭英 作者單位: 中國科學(xué)院半導(dǎo)體研究所,半導(dǎo)體材料科學(xué)實(shí)驗(yàn)室,北京,100083 刊 名: 功能材料 ISTIC EI PKU 英文刊名: JOURNAL OF FUNCTIONAL MATERIALS 年,卷(期): 2002 33(5) 分類號(hào): O48 TB79 關(guān)鍵詞: 高-k材料 蒸發(fā)法 CVD IBD【二元高-k材料研究進(jìn)展及制備】相關(guān)文章:
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