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摻磷納米硅薄膜的微結(jié)構(gòu)
采用喇曼(Raman)散射譜、高分辨率電子顯微鏡(HRTEM)和原子力顯微鏡(AFM)對摻磷納米硅薄膜的微結(jié)構(gòu)進行了分析,并對納米硅薄膜的傳導機制進行了探討.結(jié)果表明:摻磷納米硅薄膜由尺寸為2~4*#nm的晶粒和2~3個原子層厚的非晶界面構(gòu)成,計算得到薄膜的晶態(tài)比為40%~55%.與本征納米硅薄膜相比,摻磷納米硅薄膜晶粒尺寸和晶態(tài)比沒有明顯變化,電導率卻提高了2個數(shù)量級.隨著摻磷濃度增加,納米硅薄膜的晶粒尺寸、晶態(tài)比及電導率逐漸增大.AFM觀察表明摻磷納米硅薄膜由尺寸介于15~20*#nm的團簇構(gòu)成,團簇排列具有帶狀特征.
作 者: 于曉梅 王金良 江興流 王天民 作者單位: 北京航空航天大學,理學院 刊 名: 北京航空航天大學學報 ISTIC EI PKU 英文刊名: JOURNAL OF BEIJING UNIVERSITY OF AERONAUTICS AND ASTRONAUTICS 年,卷(期): 2002 28(5) 分類號: O484.1 關(guān)鍵詞: 硅薄膜 晶粒 顯微鏡 團簇【摻磷納米硅薄膜的微結(jié)構(gòu)】相關(guān)文章:
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