混沌電路電容參數(shù)的選擇優(yōu)化

通過測試蔡氏電路中關(guān)鍵元件的電壓特性關(guān)系,給出了混沌電路穩(wěn)定出現(xiàn)八倍周期分岔現(xiàn)象時(shí)電路對元件性能的要求. 實(shí)驗(yàn)發(fā)現(xiàn)相移電容的電壓穩(wěn)定性是實(shí)驗(yàn)的關(guān)鍵.

作 者： 王宇清 楊文明 WANG Yu-qing YANG Wen-ming   作者單位： 上海交通大學(xué),物理實(shí)驗(yàn)中心,上海,200240  刊 名： 物理實(shí)驗(yàn)  PKU 英文刊名： PHYSICS EXPERIMENTATION  年，卷(期)： 2009 29(2)  分類號： O415.5 TN710  關(guān)鍵詞： 蔡氐電路   混沌   倍周期   電容-電壓特性  

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