- 相關(guān)推薦
混沌電路電容參數(shù)的選擇優(yōu)化
通過測試蔡氏電路中關(guān)鍵元件的電壓特性關(guān)系,給出了混沌電路穩(wěn)定出現(xiàn)八倍周期分岔現(xiàn)象時(shí)電路對元件性能的要求. 實(shí)驗(yàn)發(fā)現(xiàn)相移電容的電壓穩(wěn)定性是實(shí)驗(yàn)的關(guān)鍵.
作 者: 王宇清 楊文明 WANG Yu-qing YANG Wen-ming 作者單位: 上海交通大學(xué),物理實(shí)驗(yàn)中心,上海,200240 刊 名: 物理實(shí)驗(yàn) PKU 英文刊名: PHYSICS EXPERIMENTATION 年,卷(期): 2009 29(2) 分類號: O415.5 TN710 關(guān)鍵詞: 蔡氐電路 混沌 倍周期 電容-電壓特性【混沌電路電容參數(shù)的選擇優(yōu)化】相關(guān)文章:
采用雙目標(biāo)優(yōu)化的核參數(shù)選擇方法04-27
重金屬污染土壤萃取方法選擇及參數(shù)優(yōu)化04-30
改進(jìn)蔡氏混沌電路的實(shí)現(xiàn)04-28
地震波阻抗參數(shù)混沌控制反演04-27
混沌優(yōu)化算法在不可分穩(wěn)態(tài)大系統(tǒng)優(yōu)化中的應(yīng)用04-27
衛(wèi)星總體參數(shù)多學(xué)科優(yōu)化與建模探討04-29
進(jìn)氣道進(jìn)口幾何參數(shù)模糊優(yōu)化設(shè)計(jì)04-29