微觀應力和晶粒尺寸的X射線單峰傅立葉分析法

研究了傅立葉分析法必然存在"hook"效應的原因,提出解決此效應的方法,進而利用假設函數(shù)的方法,把推理嚴謹?shù)亩喾甯盗⑷~分析法簡化成單峰分析法.此方法引入?yún)��?shù)m,不但能指出誤差大小,而且能自動修正誤差.單峰傅立葉分析法是一種簡單且高精度的測定微觀應力和晶粒尺寸的方法.

作 者： 趙影 熊瑛 楊保和   作者單位： 趙影(天津理工學院自動化與能源工程學院)

熊瑛,楊保和(天津理工學院光電系,天津,300191) 

刊 名： 光電子·激光  ISTIC EI PKU 英文刊名： JOURNAL OF OPTOELECTRONICS·LASER  年，卷(期)： 2003 14(2)  分類號： O766+.3  關鍵詞： X射線   Voigt函數(shù)   "hook"效應   微觀應力   晶粒尺寸   單峰傅立葉分析法  

【微觀應力和晶粒尺寸的X射線單峰傅立葉分析法】相關文章：

高能X射線的硬化校正04-27

X射線熒光光譜分析法在土壤樣品多元素分析中的應用04-26

Fe/Mo多層膜的微觀結構與應力研究04-26

名人故事：倫琴發(fā)現(xiàn)X射線的故事10-23

X-Fest:技術分銷的微觀樣本04-26

工業(yè)X射線探傷的輻射防護及其管理04-25

X射線脈沖星導航定位技術研究04-27

某醫(yī)院醫(yī)用X射線診斷受檢者的防護對策04-25

關于層次分析法和灰色關聯(lián)分析法的研究12-01

銀和銅膜中異常晶粒生長和織構變化的實驗研究04-26