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缺陷對(duì)二維四方光子晶體透射光譜的影響
利用轉(zhuǎn)移矩陣法研究了二維四方光子晶體中缺陷對(duì)透射光譜的影響.結(jié)果表明缺陷對(duì)TE波的影響比對(duì)TM波的影響明顯,缺陷層填充比對(duì)禁帶寬度影響很大,TE波禁帶在填充比r/a=0.33時(shí)最寬,第一禁帶的最低頻率隨著填充比的增加向低頻移動(dòng).
作 者： 作者單位： 刊 名： 光譜實(shí)驗(yàn)室 PKU 英文刊名： CHINESE JOURNAL OF SPECTROSCOPY LABORATORY 年，卷(期)： 2009 26(6) 分類(lèi)號(hào)： O436.2 關(guān)鍵詞： 透射率光譜 光子晶體 光子禁帶 Transmitted Spectrum Photonie Crystal Photonic Band Gap【缺陷對(duì)二維四方光子晶體透射光譜的影響】相關(guān)文章：
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