二維綜合孔徑微波輻射計(jì)誤差分析

北航電磁工程實(shí)驗(yàn)室已經(jīng)研制出的一套工作于8mm波段(34.07GHz)的10天線二維綜合孔徑微波輻射成像系統(tǒng)BHU-2D,其原理樣機(jī)采用T形陣列.對(duì)其采用相關(guān)/不相關(guān)噪聲注入法進(jìn)行誤差分析,實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明:相關(guān)偏置的主要原因是采集板量化前的互相耦合;通道問(wèn)相位不平衡誤差為-53.89度,當(dāng)積分時(shí)間為0.2秒時(shí),其起伏不大于0.18度;由于采用數(shù)字解調(diào),IQ非正交誤差很小,可以忽略其影響,同時(shí)擬合出了條紋洗滌函數(shù).

作 者： 趙鋒 苗俊剛 胡岸勇 薛永 ZHAO Feng MIAO Jun-gang HU An-yong XUE Yong   作者單位： 北京航空航天大學(xué)電子信息工程學(xué)院,北京,100083  刊 名： 微波學(xué)報(bào)  ISTIC PKU 英文刊名： JOURNAL OF MICROWAVES  年，卷(期)： 2008 24(z1)  分類(lèi)號(hào)： O4  關(guān)鍵詞： 綜合孔徑微波輻射計(jì)   BHU-2D   相關(guān)偏置   條紋洗滌函數(shù)   通道問(wèn)相位不平衡   IQ非正交誤差  

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