自拍外差混合光子相關(guān)譜與微粒粒徑測(cè)量

對(duì)實(shí)際微粒體系的自拍與外差混合的光子相關(guān)譜(PCS)進(jìn)行了理論分析與模擬計(jì)算,結(jié)果表明用純自拍或純外差算法反演自拍與外差混合的PCS時(shí)得到的微粒粒徑相對(duì)誤差可迭100%.提出了一種從混合PCS反演微粒粒徑的方法.搭建了一套能夠產(chǎn)生混合PCS的模擬實(shí)驗(yàn)裝置.用其分別對(duì)含有標(biāo)稱(chēng)粒徑為60nm和200hm的標(biāo)準(zhǔn)聚苯乙烯乳膠球微粒體系進(jìn)行了測(cè)量.實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,用本丈提出的方法反演混合PCS得到的微粒粒徑與標(biāo)稱(chēng)值的相對(duì)誤差均在5%以?xún)?nèi).

作 者： 王少清 婁本濁 張軍 金衛(wèi)東 WANG Shao-qing LOU Ben-zhuo ZHANG Jun JIN Wei-dong   作者單位： 濟(jì)南大學(xué),理學(xué)院,濟(jì)南,250022  刊 名： 光電工程  ISTIC PKU 英文刊名： OPTO-ELECTRONIC ENGINEERING  年，卷(期)： 2008 35(3)  分類(lèi)號(hào)： O432.2  關(guān)鍵詞： 動(dòng)態(tài)光散射   顆粒粒度測(cè)量   光子相關(guān)譜   PCS  

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