用200 kV電子顯微鏡分辨Li1-xNbO2中的Nb和O原子

在遠(yuǎn)離Scherzer聚焦條件下,用200 kV的高分辨電子顯微鏡拍攝了Li1-xNbO2(x≈0.7)高分辨像,再借助像解卷處理使之恢復(fù)為直接反映晶體投影結(jié)構(gòu)的解卷像.在不同晶體厚度的解卷像上均能清楚地分辨間距為0.153nm的Nb和O原子柱,看不見"原子.Nb和O原子的襯度隨厚度變化的規(guī)律符合贗弱相位物體近似像襯理論.從像模擬得知,即使原始像的離焦量接近Sdaerzer聚焦條件,解卷處理也同樣有助于提高像的質(zhì)量,并分辨開單個的O原子柱.

作 者： 王玉梅 李方華 王蓉 車廣燦 WANG Yu-mei LI Fang-hua WANG Rong CHE Guang-can   作者單位： 王玉梅,李方華,車廣燦,WANG Yu-mei,LI Fang-hua,CHE Guang-can(北京凝聚態(tài)物理國家實驗室,中國科學(xué)院物理研究所,北京100080)

王蓉,WANG Rong(北京科技大學(xué)材料物理系,北京,100083) 

刊 名： 電子顯微學(xué)報  ISTIC PKU 英文刊名： JOURNAL OF CHINESE ELECTRON MICROSCOPY SOCIETY  年，卷(期)： 2008 27(3)  分類號： O766+.1 TG115.21+5.3 TH142.8  關(guān)鍵詞： 高分辨電子顯微像   像解卷   贗弱相位物體近似理論   Li1-xNbO2  

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