基于蒙特卡羅法的測(cè)繪相機(jī)標(biāo)定誤差分析

針對(duì)測(cè)繪相機(jī)坐標(biāo)系與其立方鏡之間關(guān)系的標(biāo)定方法,建立了兩坐標(biāo)系間的轉(zhuǎn)換矩陣,分析了在測(cè)量中引起的誤差源,并基于建立的數(shù)學(xué)模型,利用蒙特卡羅法對(duì)這些誤差進(jìn)行了精度分析.使用Matlab進(jìn)行了相關(guān)模擬與解算,給出了誤差分析結(jié)果及誤差曲線,得到了各誤差在整個(gè)誤差鏈中的權(quán)重,為后期實(shí)驗(yàn)打下了基礎(chǔ).誤差分析結(jié)果表明,該方法的標(biāo)定精定可以滿足總體標(biāo)定要求,具有實(shí)用價(jià)值.

作 者： 宋丹 劉金國(guó) 吳國(guó)棟 SONG Dan LIU Jin-guo WU Guo-dong   作者單位： 宋丹,SONG Dan(中國(guó)科學(xué)院,長(zhǎng)春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所,長(zhǎng)春,130033;中國(guó)科學(xué)院,研究生院,北京,100039)

劉金國(guó),吳國(guó)棟,LIU Jin-guo,WU Guo-dong(中國(guó)科學(xué)院,長(zhǎng)春光學(xué)精密機(jī)械與物理研究所,長(zhǎng)春,130033) 

刊 名： 光電子技術(shù)  ISTIC PKU 英文刊名： OPTOELECTRONIC TECHNOLOGY  年，卷(期)： 2008 28(3)  分類號(hào)： O241.1  關(guān)鍵詞： 光學(xué)測(cè)量   誤差分析   蒙特卡羅法   立方鏡   轉(zhuǎn)換矩陣  

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