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不同氧分壓下ZrO2薄膜特性研究
在不同的氧分壓下用電子束熱蒸發(fā)的方法生長(zhǎng)了氧化鋯薄膜.通過(guò)掃描探針顯微鏡、分光光度計(jì)、X射線衍射、激光損傷閾值(LIDT)測(cè)量等,研究了沉積中氧分壓對(duì)ZrO2薄膜的微結(jié)構(gòu)、光學(xué)性質(zhì)、激光損傷閾值等的影響.
作 者: 張東平 邵建達(dá) 邵淑英 齊紅基 高衛(wèi)東 范正修 作者單位: 中國(guó)科學(xué)院上海光學(xué)精密機(jī)械研究所薄膜中心,上海,201800 刊 名: 中國(guó)激光 ISTIC EI PKU 英文刊名: CHINESE JOURNAL OF LASERS 年,卷(期): 2004 31(z1) 分類號(hào): O484.5 關(guān)鍵詞: 光學(xué)薄膜材料 氧分壓 表面粗糙度 激光損傷閾值【不同氧分壓下ZrO2薄膜特性研究】相關(guān)文章:
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