NI 493.5 nm譜線Stark加寬估算閃電放電等離子體電子密度

依據(jù)青海地區(qū)一次閃電回擊過程的光譜,分析了NI 493.5 nm譜線的Stark加寬效應(yīng),得到加寬在1.5～2.5 nm左右,通道不同位置的譜線兩邊顯示出稍有一些不對稱性;結(jié)合NI 493.5 nm線Stark加寬的半經(jīng)驗參數(shù),對通道不同位置的電子密度進行了定量計算,得到平均電子密度是1.657×1017 cm-2,并與各位置處用Hα譜線半寬得到的電子密度進行了比較,證實用NI 493.5 nm和Hα譜線半寬得到的電子密度基本一致,由NI譜線的Stark加寬估算閃電等離子體電子密度是一種實用可信的方法.數(shù)據(jù)分析表明:隨著通道位置的升高,電子密度略呈減小趨勢;電子密度與譜線半寬近似呈線性關(guān)系.

作 者： 郭逸瀟 袁萍 瞿海燕 GUO Yi-xiao YUAN Ping QU Hai-yan   作者單位： 西北師范大學(xué)物理與電子工程學(xué)院,甘肅,蘭州,730070  刊 名： 高原氣象  ISTIC PKU 英文刊名： PLATEAU METEOROLOGY  年，卷(期)： 2009 28(3)  分類號： P427.39  關(guān)鍵詞： 閃電放電等離子體   Stark加寬   電子密度  

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