淺談基巖溶洞的探測(cè)方法原理與分析

溶蝕現(xiàn)象是灰?guī)r地區(qū)基巖中較為普遍的特點(diǎn),產(chǎn)生溶洞等不良地質(zhì)現(xiàn)象,嚴(yán)重地影響基礎(chǔ)工程質(zhì)量.對(duì)于高標(biāo)準(zhǔn)工程建設(shè),僅用鉆探成本高且難以達(dá)到理想效果.本文闡述了利用高密度電法及其他物探手段(如地質(zhì)雷達(dá)法)對(duì)基巖溶洞進(jìn)行探測(cè),根據(jù)密實(shí)度和電阻率等相關(guān)參數(shù),準(zhǔn)確確定溶洞的空間賦存狀態(tài)及質(zhì)量評(píng)析.

作 者： 魏來(lái) 徐洋洋 上官士青   作者單位： 中國(guó)礦業(yè)大學(xué),江蘇,徐州,221008  刊 名： 中國(guó)西部科技  英文刊名： SCIENCE AND TECHNOLOGY OF WEST CHINA  年，卷(期)： 2009 ""(4)  分類號(hào)： P5  關(guān)鍵詞： 高密度電法   電阻率   基巖   溶洞   地質(zhì)雷達(dá)  

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