微電阻率成像儀數(shù)值模擬與分析

目前,很多油氣田已經(jīng)進入開發(fā)后期,勘探開發(fā)中常常遇到復雜的地層結構等問題,需要高分辨率的探測儀器,而陣列測井儀器在此方面得到了很好的應用.文章研究了用于復雜地層成像的微電阻率成像儀,在給出了成像儀電極系結構、電阻率測量原理之后,針對該儀器的復雜激勵條件和復雜邊界條件,采用三維有限元方法,利用雙共軛梯度方法求解矩陣方程,進行非均勻介質(zhì)中微電阻率成像儀的數(shù)值模擬.在成像儀所有的結構參數(shù)中,幾何尺寸發(fā)生改變后,有可能影響測量結果的儀器參數(shù)包括金屬芯棒的長度、絕緣棒的長度、回路電極的長度、極板的長度和寬度.相對而言,金屬芯棒、絕緣棒和回路電極的長度對探測深度的影響較小,而極板的長度和寬度影響較大.最后,就這兩個儀器結構參數(shù)對儀器探測深度的影響等問題進行了分析,并給出了不同幾何尺寸條件下成像儀的探測深度結果.

作 者： 陳愛新 Chen Aixin   作者單位： 北京航空航天大學電子信息工程學院  刊 名： 天然氣工業(yè)  ISTIC PKU 英文刊名： NATURAL GAS INDUSTRY  年，卷(期)： 2006 26(12)  分類號： P61  關鍵詞： 非均勻介質(zhì)   電阻率   成像   數(shù)值模擬   有限元法   探測深度  

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