電離層虛高的高精度測量與分析

為了提高電離層虛高測量精度,介紹了利用電離層回波相位實現(xiàn)高精度虛高測量的方法,并以CADI(Canadian Advanced Digital Ionosonde)電離層數(shù)字測高儀為研究平臺,進行組合脈沖控制和回波相位測量分析,開展了一系列虛高測量實驗,并與傳統(tǒng)的利用回波時間延遲的虛高測量方法進行了分析比較.實驗結(jié)果表明,基于回波相位的測量分析方法與回波時延測量分析方法相比,其虛高測量精度高一個量級以上,這對精確反演電離層峰下電子濃度剖面及研究電離層精細結(jié)構(gòu)具有重要意義.

作 者： 朱正平 寧百齊 萬衛(wèi)星 ZHU Zhengping NING Baiqi WAN Weixing   作者單位： 朱正平,ZHU Zhengping(中國科學院地質(zhì)與地球物理研究所,北京,100029;中國科學院武漢物理與數(shù)學研究所;中國科學院研究生院)

寧百齊,萬衛(wèi)星,NING Baiqi,WAN Weixing(中國科學院地質(zhì)與地球物理研究所,北京,100029) 

刊 名： 空間科學學報  ISTIC PKU 英文刊名： CHINESE JOURNAL OF SPACE SCIENCE  年，卷(期)： 2007 27(3)  分類號： P353  關(guān)鍵詞： 電離層虛高   回波相位   回波時延  

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