對瞬變電磁法回線邊長決定探測深度的質(zhì)疑

質(zhì)疑瞬變電磁法探測深度取決于場源磁矩(M=IL2)的強(qiáng)度,當(dāng)電源能量一定時(shí),改變回線邊長就成為控制探測深度的有效措施;認(rèn)為"大回線有大深度"、"小回線探測淺"等共識是不正確的,它是不計(jì)條件應(yīng)用深度公式的誤導(dǎo).研究認(rèn)為:瞬變電磁法的探測深度取決于場源含有的低頻成分,基頻越低,探測越深;磁矩只是決定探測結(jié)果的信噪比.

作 者： 王慶乙 WANG Qing-yi   作者單位： 北京礦產(chǎn)地質(zhì)研究院,北京,100012  刊 名： 物探與化探  ISTIC PKU 英文刊名： GEOPHYSICAL AND GEOCHEMICAL EXPLORATION  年，卷(期)： 2007 31(4)  分類號： P631  關(guān)鍵詞： 探測深度   回線邊長   場源頻率   磁矩  

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