GC/MS/MS分析復(fù)雜基體中痕量組分的優(yōu)越性

在現(xiàn)代實(shí)驗(yàn)室中,GC/MS用于痕量分析極為普遍,要求更低的檢測(cè)限而被分析樣品的基體越來(lái)越復(fù)雜的情況由來(lái)已久.

作 者： Keith Worrall Anthony Newton   作者單位：   刊 名： 環(huán)境化學(xué)  ISTIC PKU 英文刊名： ENVIRONMENTAL CHEMISTRY  年，卷(期)： 2005 24(6)  分類(lèi)號(hào)： X13  關(guān)鍵詞：  

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